Nicolici, Nicola: шукати на сайті Z-Library

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (78)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

51

[IEEE 2009 14th IEEE European Test Symposium (ETS) - Sevilla, Spain (2009.05.25-2009.05.29)] 2009 14th IEEE European Test Symposium - Resource-Efficient Programmable Trigger Units for Post-Silicon Validation

Ko, Ho Fai, Nicolici, Nicola

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 863 KB

english, 2009

52

[IEEE 2014 IEEE 23rd Asian Test Symposium (ATS) - Hangzhou, China (2014.11.16-2014.11.19)] 2014 IEEE 23rd Asian Test Symposium - On Supporting Sequential Constraints for On-Chip Generation of Post-silicon Validation Stimuli

Shi, Xiaobing, Nicolici, Nicola

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 210 KB

english, 2014

53

[ACM Press the 42nd annual conference - San Diego, California, USA (2005.06.13-2005.06.17)] Proceedings of the 42nd annual conference on Design automation - DAC '05 - Multi-frequency wrapper design and optimization for embedded cores under average power constraints

Xu, Qiang, Nicolici, Nicola, Chakrabarty, Krishnendu

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.24 MB

english, 2005

54

[ACM Press the conference - Munich, Germany (2008.03.10-2008.03.14)] Proceedings of the conference on Design, automation and test in Europe - DATE '08 - Automated trace signals identification and state restoration for improving observability in post-silicon validation

Ko, Ho Fai, Nicolici, Nicola

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 743 KB

english, 2008

55

[ACM Press the 48th Design Automation Conference - San Diego, California (2011.06.05-2011.06.10)] Proceedings of the 48th Design Automation Conference on - DAC '11 - Dynamic binary translation to a reconfigurable target for on-the-fly acceleration

Kinsman, Phillip, Nicolici, Nicola

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 235 KB

english, 2011

56

[ACM Press the conference - Paris, France (2000.03.27-2000.03.30)] Proceedings of the conference on Design, automation and test in Europe - DATE '00 - Scan latch partitioning into multiple scan chains for power minimization in full scan sequential circuits

Nicolici, Nicola, Al-Hashimi, Bashir M.

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 92 KB

english, 2000

57

[ACM Press the conference - Munich, Germany (2008.03.10-2008.03.14)] Proceedings of the conference on Design, automation and test in Europe - DATE '08 - On automated trigger event generation in post-silicon validation

Ko, Ho Fai, Nicolici, Nicola

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.04 MB

english, 2008

58

[IEEE 2015 IEEE 24th North Atlantic Test Workshop (NATW) - Johnson City, NY, USA (2015.5.11-2015.5.13)] 2015 IEEE 24th North Atlantic Test Workshop - Satisfiability-Based Analysis of Failing Traces during Post-silicon Debug

Vali, Amin, Nicolici, Nicola

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 648 KB

english, 2015

59

[ACM Press the 2005 conference - Shanghai, China (2005.01.18-2005.01.21)] Proceedings of the 2005 conference on Asia South Pacific design automation - ASP-DAC '05 - Register-transfer level functional scan for hierarchical designs

Ko, Ho Fai, Xu, Qiang, Nicolici, Nicola

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 400 KB

english, 2005

60

[ACM Press the conference - Munich, Germany (1999..-..)] Proceedings of the conference on Design, automation and test in Europe - DATE '99 - Efficient BIST hardware insertion with low test application time for synthesized data paths

Nicolici, Nicola, Al-Hashimi, Bashir M.

Рік:

1999

Мова:

english

Файл:

PDF, 90 KB

english, 1999

61

[IEEE 2014 IEEE International Test Conference (ITC) - Seattle, WA, USA (2014.10.20-2014.10.23)] 2014 International Test Conference - On-chip constrained random stimuli generation for post-silicon validation using compact masks

Shi, Xiaobing, Nicolici, Nicola

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.90 MB

english, 2014

62

Automated Selection of Assertions for Bit-flip Detection during Post-Silicon Validation

Taatizadeh, Pouya, Nicolici, Nicola

Журнал:

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

Рік:

2016

Файл:

PDF, 1.21 MB

2016

63

Automated Selection of Assertions for Bit-flip Detection during Post-Silicon Validation

Taatizadeh, Pouya, Nicolici, Nicola

Журнал:

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.21 MB

english, 2016

64

Guest Editors' Introduction: Silicon Debug and Diagnosis

Nicolici, Nicola, Benware, Brady

Журнал:

IEEE Design and Test

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 56 KB

english, 2013

65

On-Chip Cube-Based Constrained-Random Stimuli Generation for Post-Silicon Validation

Shi, Xiaobing, Nicolici, Nicola

Журнал:

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.91 MB

english, 2015

66

[IEEE 2015 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD) - Austin, TX, USA (2015.11.2-2015.11.6)] 2015 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD) - On-chip generation of uniformly distributed constrained-random stimuli for post-silicon validation

Shi, Xiaobing, Nicolici, Nicola

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.62 MB

english, 2015

67

[IEEE 2015 33rd IEEE International Conference on Computer Design (ICCD) - New York City, NY, USA (2015.10.18-2015.10.21)] 2015 33rd IEEE International Conference on Computer Design (ICCD) - Emulation-based selection and assessment of assertion checkers for post-silicon validation

Taatizadeh, Pouya, Nicolici, Nicola

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 300 KB

english, 2015

68

[ACM Press the 47th Design Automation Conference - Anaheim, California (2010.06.13-2010.06.18)] Proceedings of the 47th Design Automation Conference on - DAC '10 - A novel optimal single constant multiplication algorithm

Thong, Jason, Nicolici, Nicola

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 150 KB

english, 2010

69

[ACM Press the 47th Design Automation Conference - Anaheim, California (2010.06.13-2010.06.18)] Proceedings of the 47th Design Automation Conference on - DAC '10 - Post-silicon validation opportunities, challenges and recent advances

Mitra, Subhasish, Seshia, Sanjit A., Nicolici, Nicola

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 245 KB

english, 2010

70

Generating Cyclic-Random Sequences in a Constrained Space for In-System Validation

Shi, Xiaobing, Nicolici, Nicola

Журнал:

IEEE Transactions on Computers

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.48 MB

english, 2016

71

[IEEE 2016 IEEE European Test Symposium (ETS) - Amsterdam, Netherlands (2016.5.23-2016.5.27)] 2016 21th IEEE European Test Symposium (ETS) - Bit-flip detection-driven selection of trace signals

Vali, Amin, Nicolici, Nicola

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.05 MB

english, 2016

72

[IEEE Conference Publications Design, Automation and Test in Europe - Grenoble, France (2015.03.9-2015.03.13)] Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2015 - A Methodology for Automated Design of Embedded Bit-flips Detectors in Post-Silicon Validation

Taatizadeh, Pouya, Nicolici, Nicola

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 442 KB

english, 2015

73

[ACM Press the 47th Design Automation Conference - Anaheim, California (2010.06.13-2010.06.18)] Proceedings of the 47th Design Automation Conference on - DAC '10 - Embedded memory binding in FPGAs

Elizeh, Kaveh, Nicolici, Nicola

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 698 KB

english, 2010

74

[ACM Press the 47th Design Automation Conference - Anaheim, California (2010.06.13-2010.06.18)] Proceedings of the 47th Design Automation Conference on - DAC '10 - Robust design methods for hardware accelerators for iterative algorithms in scientific computing

Kinsman, Adam B., Nicolici, Nicola

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 340 KB

english, 2010

75

Bit-flip Detection-Driven Selection of Trace Signals

Vali, Amin, Nicolici, Nicola

Журнал:

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.84 MB

english, 2017

76

Guest Editors' Introduction: Top Papers from the 2015 International Test Conference

Nicolici, Nicola, Stratigopoulos, Haralampos-G.

Журнал:

IEEE Design and Test

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 65 KB

english, 2016

77

[IEEE 2017 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD) - Irvine, CA (2017.11.13-2017.11.16)] 2017 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD) - An automated SAT-based method for the design of on-chip bit-flip detectors

Taatizadeh, Pouya, Nicolici, Nicola

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 460 KB

english, 2017

78

[IEEE 2017 IEEE 23rd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) - Thessaloniki, Greece (2017.7.3-2017.7.5)] 2017 IEEE 23rd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) - A generic embedded sequence generator for constrained-random validation with weighted distributions

Shi, Xiaobing, Nicolici, Nicola

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 190 KB

english, 2017