Pret: шукати на сайті Z-Library

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (155)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California (Sunday 12 February 2012)] Advanced Etch Technology for Nanopatterning - Dry etching challenges for patterning smooth lines: LWR reduction of extreme ultra violet photo resist

Altamirano-Sánchez, Efraín, Vaglio Pret, Alessandro, Gronheid, Roel, Boullart, Werner, Zhang, Ying

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.86 MB

english, 2012

Line edge and width roughness smoothing by plasma treatment

De Schepper, Peter, Hansen, Terje, Altamirano-Sanchez, Efrain, Pret, Alessandro Vaglio, el Otell, Ziad, Boulart, Werner, De Gendt, Stefan

Журнал:

Journal of Micro/Nanolithography MEMS and MOEMS

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.26 MB

english, 2014

Painting the full picture: The conversion of economic, cultural, social and symbolic capital

Pret, T., Shaw, E., Drakopoulou Dodd, S.

Журнал:

International Small Business Journal

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 816 KB

english, 2015

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California, USA (Sunday 23 February 2014)] Optical Microlithography XXVII - Modeling the lithography of ion implantation resists on topography

Lai, Kafai, Erdmann, Andreas, Winroth, Gustaf, Vaglio Pret, Alessandro, Ercken, Monique, Robinson, Stewart A., Biafore, John J.

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.30 MB

english, 2014

Futile and False Rejoinders, Sophistical Arguments and Early Indian Logic

Ernst Prets

Журнал:

Journal of Indian Philosophy

Рік:

2001

Мова:

english

Файл:

PDF, 131 KB

english, 2001

Mask roughness impact on extreme UV and 193nm immersion lithography

Garidis, Konstantinos, Pret, Alessandro Vaglio, Gronheid, Roel

Журнал:

Microelectronic Engineering

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 683 KB

english, 2012

The weathering intensity scale (WIS): An alternative approach of the Chemical Index of Alteration (CIA)

Meunier, A., Caner, L., Hubert, F., El Albani, A., Pret, D.

Журнал:

American Journal of Science

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 503 KB

english, 2013

Impact of post-litho linewidth roughness smoothing processes on the post-etch patterning result

Pret, Alessandro Vaglio

Журнал:

Journal of Micro/Nanolithography MEMS and MOEMS

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 562 KB

english, 2011

Challenges in line edge roughness metrology in directed self-assembly lithography: placement errors and cross-line correlations

Constantoudis, Vassilios, Papavieros, George, Gogolides, Evangelos, Pret, Alessandro Vaglio, Pathangi, Hari, Gronheid, Roel

Журнал:

Journal of Micro/Nanolithography MEMS and MOEMS

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 4.24 MB

english, 2017

Line Width Roughness mitigation in chemically amplified resist by post-litho processes

Alessandro Vaglio Pret, Roel Gronheid

Журнал:

Microelectronic Engineering

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 446 KB

english, 2010

A fast algorithm for bottom-up document layout analysis

Simon, A., Pret, J.-C., Johnson, A.P.

Журнал:

IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence

Рік:

1997

Мова:

english

Файл:

PDF, 79 KB

english, 1997

In-situ interaction of cement paste and shotcrete with claystones in a deep disposal context

Gaboreau, S., Lerouge, C., Dewonck, S., Linard, Y., Bourbon, X., Fialips, C. I., Mazurier, A., Pret, D., Borschneck, D., Montouillout, V., Gaucher, E. C., Claret, F.

Журнал:

American Journal of Science

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 23.85 MB

english, 2012

Upscaling the porosity of the Callovo-Oxfordian mudstone from the pore scale to the formation scale; insights from the 3H-PMMA autoradiography technique and SEM BSE imaging

Robinet, J.C., Sardini, P., Siitari-Kauppi, M., Prêt, D., Yven, B.

Журнал:

Sedimentary Geology

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.19 MB

english, 2015

Critical dimension uniformity and contact edge roughness in extreme ultraviolet lithography: effect of photoacid generator, sensitizer and quencher

Kuppuswamy, Vijaya-Kumar Murugesan, Constantoudis, Vassilios, Gogolides, Evangelos, Pret, Alessandro Vaglio, Gronheid, Roel

Журнал:

Journal of Micro/Nanolithography MEMS and MOEMS

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 4.78 MB

english, 2013

Optimization of pore-network characterization of a compacted clay material by TEM and FIB/SEM imaging

Gaboreau, Stéphane, Robinet, Jean-Charles, Prêt, Dimitri

Журнал:

Microporous and Mesoporous Materials

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 16.81 MB

english, 2015

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California, United States (Sunday 23 February 2014)] Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography V - Stochastic and systematic patterning failure mechanisms for contact-holes in EUV lithography: Part 2

Wood, Obert R., Panning, Eric M., Vaglio Pret, Alessandro, De Bisschop, Peter, Smith, Mark D., Biafore, John J.

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 4.26 MB

english, 2014

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California, United States (Sunday 23 February 2014)] Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography V - Impact of stochastic effects on EUV printability limits

Wood, Obert R., Panning, Eric M., De Bisschop, P., Van de Kerkhove, J., Mailfert, J., Vaglio Pret, A., Biafore, J.

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.37 MB

english, 2014

Expanding the Domain of Festival Research: A Review and Research Agenda

Wilson, Juliette, Arshed, Norin, Shaw, Eleanor, Pret, Tobias

Журнал:

International Journal of Management Reviews

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 571 KB

english, 2016

A Physics-based Model for Negative Tone Development Materials

Fang, Chao, Smith, Mark D., Robertson, Stewart, Biafore, John J., Pret, Alessandro Vaglio

Журнал:

Journal of Photopolymer Science and Technology

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 263 KB

english, 2014

The importance of ‘fitting in’: collaboration and social value creation in response to community norms and expectations

Pret, Tobias, Carter, Sara

Журнал:

Entrepreneurship & Regional Development

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.81 MB

english, 2017

Trades-off between lithography line edge roughness and error-correcting codes requirements for NAND Flash memories

Pavel Poliakov, Pieter Blomme, Alessandro Vaglio Pret, Miguel Miranda Corbalan, Roel Gronheid, Diederik Verkest, Jan Van Houdt, Wim Dehaene

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 732 KB

english, 2012

Proteomic Analysis of Mature Soybean Seeds from the Chernobyl Area Suggests Plant Adaptation to the Contaminated Environment

Danchenko, Maksym, Skultety, Ludovit, Rashydov, Namik M., Berezhna, Valentyna V., Mátel, L’ubomír, Salaj, Terézia, Pret’ová, Anna, Hajduch, Martin

Журнал:

Journal of Proteome Research

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.56 MB

english, 2009

Indirect estimation of the clay content of clay-rocks using acoustic measurements: New insights from the Montiers-sur-Saulx deep borehole (Meuse, France)

Cosenza, P., Robinet, J.C., Prêt, D., Huret, E., Fleury, M., Géraud, Y., Lebon, P., Villiéras, F., Zamora, M.

Журнал:

Marine and Petroleum Geology

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.56 MB

english, 2014

Corrosion of metal iron in contact with anoxic clay at 90°C: Characterization of the corrosion products after two years of interaction

Schlegel, Michel L., Bataillon, Christian, Brucker, Florence, Blanc, Cécile, Prêt, Dimitri, Foy, Eddy, Chorro, Matthieu

Журнал:

Applied Geochemistry

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 4.41 MB

english, 2014

[IEEE 2012 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) - San Francisco, CA, USA (2012.12.10-2012.12.13)] 2012 International Electron Devices Meeting - Opportunities and challenges in device scaling by the introduction of EUV lithography

Ronse, K., De Bisschop, P., Vandenberghe, G., Hendrickx, E., Gronheid, R., Pret, A. Vaglio, Mallik, A., Verkest, D., Steegen, A.

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 439 KB

english, 2012

Roughness characterization in the frequency domain and linewidth roughness mitigation with post-lithography processes

Vaglio Pret, Alessandro

Журнал:

Journal of Micro/Nanolithography MEMS and MOEMS

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 680 KB

english, 2010

Resist roughness evaluation and frequency analysis: metrological challenges and potential solutions for extreme ultraviolet lithography

Pret, Alessandro Vaglio

Журнал:

Journal of Micro/Nanolithography MEMS and MOEMS

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.34 MB

english, 2010

SPIE Proceedings [SPIE Advanced Lithography - San Jose, CA (Sunday 25 February 2007)] Optical Microlithography XX - Sub-k1 = 0.25 lithography with double patterning technique for 45-nm technology node flash memory devices at λ = 193nm

Capetti, Gianfranco, Cantù, Pietro, Galassini, Elisa, Vaglio Pret, Alessandro, Turco, Catia, Vaccaro, Alessandro, Rigolli, Pierluigi, D'Angelo, Fabrizio, Cotti, Gina, Flagello, Donis G.

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.09 MB

english, 2007

Evidence of speckle in extreme-UV lithography

Pret, Alessandro Vaglio, Gronheid, Roel, Engelen, Jan, Yan, Pei-Yang, Leeson, Michael J., Younkin, Todd R.

Журнал:

Optics Express

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.56 MB

english, 2012

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California, USA (Sunday 24 February 2013)] Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography IV - Roughness and variability in EUV lithography: Who is to blame? (part 1)

Vaglio Pret, Alessandro, Naulleau, Patrick P., Gronheid, Roel, Younkin, Todd R., Winroth, Gustaf, Biafore, John J., Anno, Yusuke, Hoshiko, Kenji, Constantoudis, Vassilios

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 529 KB

english, 2013

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California, USA (Sunday 27 February 2011)] Advances in Resist Materials and Processing Technology XXVIII - Impact of post-litho LWR smoothing processes on the post-etch patterning result

Foubert, Philippe, Allen, Robert D., Somervell, Mark H., Vaglio Pret, Alessandro, Altamirano Sanchez, Efrain, Gronheid, Roel

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.16 MB

english, 2011

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California, United States (Sunday 21 February 2016)] Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXX - Gaining insight into effective metrology height through the use of a compact CDSEM model for lithography simulation

Sanchez, Martha I., Ukraintsev, Vladimir A., Fang, Chao, Graves, Trey, Vaglio Pret, Alessandro, Robertson, Stewart, Smith, Mark

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.05 MB

english, 2016

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California, USA (Sunday 22 February 2009)] Advances in Resist Materials and Processing Technology XXVI - Resist fundamentals for resolution, LER, and sensitivity (RLS) performance tradeoffs and their relation to micro-bridging defects

Rathsack, Benjamin, Henderson, Clifford L., Nafus, Kathleen, Hatakeyama, Shinichi, Kuwahara, Yuhei, Kitano, Junichi, Gronheid, Roel, Vaglio Pret, Alessandro

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 562 KB

english, 2009

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California, USA (Sunday 27 February 2011)] Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography II - Impact of mask line roughness in EUV lithography

Vaglio Pret, Alessandro, La Fontaine, Bruno M., Naulleau, Patrick P., Gronheid, Roel, Graves, Trey, Smith, Mark D., Biafore, John

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 529 KB

english, 2011

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California, United States (Sunday 26 February 2017)] Advances in Patterning Materials and Processes XXXIV - Modeling and simulation of low-energy electron scattering in organic and inorganic EUV photoresists

Hohle, Christoph K., Gronheid, Roel, Vaglio Pret, Alessandro, Graves, Trey, Blankenship, David, Biafore, John J.

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 4.51 MB

english, 2017

Artisan entrepreneurship: a systematic literature review and research agenda

Pret, Tobias, Cogan, Aviel

Журнал:

International Journal of Entrepreneurial Behaviour & Research

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 373 KB

english, 2018

Effect of microstructure on hydric strain in clay rock: A quantitative comparison

Fauchille, Anne-Laure, Hedan, Stephen, Valle, Valéry, Prêt, Dimitri, Cabrera, Justo, Cosenza, Philippe

Журнал:

Applied Clay Science

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.67 MB

english, 2019

Representative elementary area of shale at the mesoscopic scale

Cosenza, Philippe, Prêt, Dimitri, Fauchille, Anne-Laure, Hedan, Stephen

Журнал:

International Journal of Coal Geology

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.91 MB

english, 2019

Über die Darstellung von Chlor mittels Braunstein und Salpetersäure

G. Lunge, C. Pret

Журнал:

Angewandte Chemie

Рік:

1893

Мова:

german

Файл:

PDF, 736 KB

german, 1893

Hedgehog signaling controls Soma-Germen interactions during Drosophila ovarian morphogenesis

Florence Besse, Denise Busson, Anne-Marie Pret

Журнал:

Developmental Dynamics

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 504 KB

english, 2005

Influence of the ionic strength and solid/solution ratio on Ca(II)-for-Na+ exchange on montmorillonite. Part 1: Chemical measurements, thermodynamic modeling and potential implications for trace elements geochemistry

E. Tertre, D. Prêt, E. Ferrage

Журнал:

Journal of Colloid and Interface Science

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 398 KB

english, 2011

Mask line roughness contribution in EUV lithography

Alessandro Vaglio Pret, Roel Gronheid

Журнал:

Microelectronic Engineering

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.23 MB

english, 2011

Acute calcium homeostasis in mhs swine

Gaisford G. Harrison, David F. Morrell, Virginia Brain Bvsc(Pret), George G. Jaros, DSc(Pret)

Журнал:

Canadian Journal of Anesthesia/Journal canadien d'anesthésie

Рік:

1987

Мова:

english

Файл:

PDF, 181 KB

english, 1987

Histological study of embryo-like structures initiated from hypocotyl segments of flax (Linum usitatissimumL.)

J. Salaj, B. Petrovská, B. Obert, A. Pret'ová

Журнал:

Plant Cell Reports

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 417 KB

english, 2005

Haploid formation in maize, barley, flax, and potato

A. Pret’ová, B. Obert, Z. Bartošová

Журнал:

Protoplasma

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 326 KB

english, 2006

Flax anther culture: effect of genotype, cold treatment and media

Bohuš Obert, Beata Dedičová, Andrea Hricová, Jozef šamaj, Anna Pret'ová

Журнал:

Plant Cell, Tissue and Organ Culture

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 108 KB

english, 2004

Plant cell and biotechnology studies inLinum usitatissimum– a review

Steve Millam, Bohuš Obert, Anna Pret’ová

Журнал:

Plant Cell, Tissue and Organ Culture

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 229 KB

english, 2005

Physiological apoptosis of polar cells during Drosophila oogenesis is mediated by Hid-dependent regulation of Diap1

Khammari, A, Agnès, F, Gandille, P, Pret, A-M

Журнал:

Cell Death & Differentiation

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.80 MB

english, 2010

Leaf developmental stage and tissue location affect the detection of β-glucuronidase in transgenic tobacco plants

A. Pret'ová, B. Obert, H.Y. Wetzstein

Журнал:

Biotechnology Letters

Рік:

2001

Мова:

english

Файл:

PDF, 39 KB

english, 2001

Orientational dependence of luminescence yield excited by fast electrons in NaCl crystals

V. A. Prets, V. A. Kuz'minykh, S. V. Plotnikov, E. I. Rozum

Журнал:

Russian Physics Journal

Рік:

1979

Мова:

english

Файл:

PDF, 343 KB

english, 1979