High flexibility of DNA on short length scales probed by atomic force microscopy
Wiggins, Paul A., van der Heijden, Thijn, Moreno-Herrero, Fernando, Spakowitz, Andrew, Phillips, Rob, Widom, Jonathan, Dekker, Cees, Nelson, Philip C.Том:
1
Рік:
2006
Мова:
english
Сторінки:
5
DOI:
10.1038/nnano.2006.63
Файл:
PDF, 276 KB
english, 2006