Ultrafast thermoreflectance techniques for measuring thermal conductivity and interface thermal conductance of thin films
Zhu, Jie, Tang, Dawei, Wang, Wei, Liu, Jun, Holub, Kristopher W., Yang, RongguiТом:
108
Рік:
2010
Мова:
english
DOI:
10.1063/1.3504213
Файл:
PDF, 711 KB
english, 2010
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
