Characterization and Modeling of Parasitic Field-Oxide Transistors for Use in Radiation Hardening by Design
Schlenvogt, Garrett J., Barnaby, Hugh J., Rollins, Jeff D., Wilkinson, Jeff, Morrison, Scott, Tyler, LarryТом:
58
Рік:
2011
Мова:
english
Сторінки:
8
DOI:
10.1109/tns.2011.2169427
Файл:
PDF, 3.39 MB
english, 2011
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
