Analysis of HBM ESD testers and specifications using a fourth-order lumped element model
Koen Verhaege, Philippe J. Roussel, Guido Groeseneken, Herman E. Maes, Horst Gieser, Christian Russ, Peter Egger, Xaver Guggenmos, Fred G. KuperТом:
10
Рік:
1994
Мова:
english
Сторінки:
10
DOI:
10.1002/qre.4680100413
Файл:
PDF, 876 KB
english, 1994
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
