Error analysis in semiconductor impurity energy level determinations
Joseph H. Nevin, H.Thurman Henderson, K.L. ShenТом:
17
Рік:
1982
Мова:
english
Сторінки:
10
DOI:
10.1016/0025-5408(82)90058-7
Файл:
PDF, 424 KB
english, 1982