In situ TEM study on crack propagation in nanoscale Au thin films
Hongtao Wang, Anmin Nie, Jiabin Liu, Peng Wang, Wei Yang, Bangdao Chen, Hongzhong Liu, Maosen FuТом:
65
Рік:
2011
Мова:
english
Сторінки:
3
DOI:
10.1016/j.scriptamat.2011.05.009
Файл:
PDF, 444 KB
english, 2011
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
