Revisited approach for the characterization of Gate Induced Drain Leakage
Quentin Rafhay, Cuiqin Xu, Perrine Batude, Mireille Mouis, Maud Vinet, Gérard GhibaudoТом:
71
Рік:
2012
Мова:
english
Сторінки:
5
DOI:
10.1016/j.sse.2011.10.017
Файл:
PDF, 507 KB
english, 2012