Point defect determination by eliminating frequency dispersion in C–V measurement for AlGaN/GaN heterostructure
Liang Li, Lin-An Yang, Jin-Cheng Zhang, Lin-Xia Zhang, Li-Sha Dang, Qian-Wei Kuang, Yue HaoТом:
68
Рік:
2012
Мова:
english
Сторінки:
5
DOI:
10.1016/j.sse.2011.11.001
Файл:
PDF, 272 KB
english, 2012