Nonlinear GaAs MESFET modeling using pulsed gate measurements
Paggi, M., Williams, P.H., Borrego, J.M.Том:
36
Рік:
1988
Мова:
english
Сторінки:
5
DOI:
10.1109/22.17389
Файл:
PDF, 529 KB
english, 1988