Rapid Prediction of RRAM RESET-State Disturb by Ramped Voltage Stress
Wun-Cheng Luo, Kuan-Liang Lin, Jiun-Jia Huang, Chung-Lun Lee, Tuo-Hung HouТом:
33
Рік:
2012
Мова:
english
Сторінки:
3
DOI:
10.1109/led.2012.2185838
Файл:
PDF, 367 KB
english, 2012
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
