Broad-Band Noise Mechanisms and Noise Measurements of Metal...

Broad-Band Noise Mechanisms and Noise Measurements of Metal Semiconductor Junctions

Jelenski, A., Kollberg, E.L., Zirath, H.H.G.

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Том:

Рік:

1986

Мова:

english

Сторінки:

DOI:

10.1109/tmtt.1986.1133516

Файл:

PDF, 996 KB

english, 1986

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась