Inspection of commercial optical devices for data storage using a three Gaussian beam microscope interferometer
Flores, J. Mauricio, Cywiak, Moisés, Servín, Manuel, Juárez P., LorenzoТом:
47
Рік:
2008
Мова:
english
Журнал:
ao/47/27/ao-47-27-4974.pdf
DOI:
10.1364/AO.47.004974
Файл:
PDF, 662 KB
english, 2008
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
