Linear optical characterization of transparent thin films by the Z-scan technique
Boudebs, Georges, Fedus, KamilТом:
48
Рік:
2009
Мова:
english
Журнал:
ao/48/21/ao-48-21-4124.pdf
DOI:
10.1364/AO.48.004124
Файл:
PDF, 598 KB
english, 2009