Laser-based in situ techniques: Novel methods for generating extreme conditions in TEM samples
Mitra L. Taheri, Thomas Lagrange, Bryan W. Reed, Michael R. Armstrong, Geoffrey H. Campbell, William J. DeHope, Judy S. Kim, Wayne E. King, Daniel J. Masiel, Nigel D. BrowningТом:
72
Рік:
2009
Мова:
english
Сторінки:
9
DOI:
10.1002/jemt.20664
Файл:
PDF, 445 KB
english, 2009