Diffracting aperture based differential phase contrast for scanning X-ray microscopy
Burkhard Kaulich, Francois Polack, Ulrich Neuhaeusler, Jean Susini, Enzo di Fabrizio, Thomas WilheinТом:
10
Рік:
2002
Мова:
english
Сторінки:
7
Журнал:
oe/10/20/oe-10-20-1111.pdf
DOI:
10.1364/OE.10.001111
Файл:
PDF, 453 KB
english, 2002
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
