Picometer level displacement metrology with digitally enhanced heterodyne interferometry
de Vine, Glenn, Rabeling, David S., Slagmolen, Bram J. J., Lam, Timothy T-Y., Chua, Sheon, Wuchenich, Danielle M., McClelland, David E., Shaddock, Daniel A.Том:
17
Рік:
2009
Мова:
english
Журнал:
oe/17/2/oe-17-2-828.pdf
DOI:
10.1364/OE.17.000828
Файл:
PDF, 518 KB
english, 2009
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
