Characterization of titanium hydride films covered by nanoscale evaporated Au layers: ToF-SIMS, XPS and AES depth profile analysis
Lisowski, W., van den Berg, A. H. J., Leonard, D., Mathieu, H. J.Том:
29
Мова:
english
Сторінки:
6
Журнал:
Surface and Interface Analysis
DOI:
10.1002/(sici)1096-9918(200004)29:43.0.co;2-l
Date:
April, 2000
Файл:
PDF, 98 KB
english, 2000
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
