Researches on Principles and Applications of Electronic Speckle Pattern Interferometry to Nondestructive Examination
Jing Liu, Yang Jiao, Meishan Jin, Ling Gao, Siming HeТом:
17
Рік:
2012
Мова:
english
Сторінки:
1682
DOI:
10.1016/j.egypro.2012.02.297
Файл:
PDF, 920 KB
english, 2012