Evaluation of creep properties for Sn–Ag–Cu micro solder joint by multi-temperature stress relaxation test
Yoshihiko Kanda, Yoshiharu KariyaТом:
52
Рік:
2012
Мова:
english
DOI:
10.1016/j.microrel.2012.02.006
Файл:
PDF, 802 KB
english, 2012