Viability loss and oxidative stress in Lily bulbs during long-term cold storage
Frans J.M. Bonnier, Folkert A. Hoekstra, C.H. Ric De Vos, Jaap M. Van TuylТом:
122
Рік:
1997
Мова:
english
DOI:
10.1016/s0168-9452(96)04548-7
Файл:
PDF, 756 KB
english, 1997