Barrier height determination of SiC Schottky diodes by...

Barrier height determination of SiC Schottky diodes by capacitance and current–voltage measurements

Raynaud, C., Isoird, K., Lazar, M., Johnson, C. M., Wright, N.

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Том:

Рік:

2002

Мова:

english

DOI:

10.1063/1.1477256

Файл:

PDF, 377 KB

english, 2002

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась