High aspect ratio nanoneedle probes with an integrated electrode at the tip apex
Comstock, David J., Elam, Jeffrey W., Pellin, Michael J., Hersam, Mark C.Том:
83
Рік:
2012
Мова:
english
Журнал:
Review of Scientific Instruments
DOI:
10.1063/1.4767248
Файл:
PDF, 819 KB
english, 2012
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
