Study of layout influence on ruggedness of NPT-IGBT devices by physical modelling
I. Cortés, X. Perpiñà, J. Urresti, X. Jordà, J. RebolloТом:
52
Рік:
2012
Мова:
english
DOI:
10.1016/j.microrel.2012.06.074
Файл:
PDF, 1.43 MB
english, 2012