Comparative study of electrical instabilities in InGaZnO thin film transistors with gate dielectrics
Seul Ki Lee, Sung Il Hong, Yeon Ho Lee, Se Won Lee, Won Ju Cho, Jong Tae ParkТом:
52
Рік:
2012
Мова:
english
DOI:
10.1016/j.microrel.2012.06.134
Файл:
PDF, 530 KB
english, 2012
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
