Detection of Process Failures in Layerwise Laser Melting with Optical Process Monitoring
Tom Craeghs, Stijn Clijsters, Jean.-Pierre Kruth, Florian Bechmann, Marie.-Christin EbertТом:
39
Рік:
2012
Мова:
english
DOI:
10.1016/j.phpro.2012.10.097
Файл:
PDF, 1009 KB
english, 2012
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
