[Advanced Texts in Physics] High-Resolution X-Ray Scattering || Determination of Layer Thicknesses of Single Layers and Multilayers
Pietsch, Ullrich, Holý, Václav, Baumbach, TiloТом:
10.1007/97
Рік:
2004
Мова:
english
DOI:
10.1007/978-1-4757-4050-9_8
Файл:
PDF, 3.98 MB
english, 2004
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
