EMC 2008 14th European Microscopy Congress 1–5 September 2008, Aachen, Germany || Investigation of swift ions damage in wide band gap wurtzite semiconductors
Richter, Silvia, Schwedt, AlexanderТом:
10.1007/97
Рік:
2008
Мова:
english
DOI:
10.1007/978-3-540-85226-1_44
Файл:
PDF, 217 KB
english, 2008
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
