[IEEE 2010 IEEE 3rd International Nanoelectronics...

[IEEE 2010 IEEE 3rd International Nanoelectronics Conference (INEC) - Hong Kong, China (2010.01.3-2010.01.8)] 2010 3rd International Nanoelectronics Conference (INEC) - In-situ synchrotron X-ray diffraction measurement of epitaxial FeRh thin films

Sung-Uk Jang,, Seungmin Hyun,, Hwan Soo Lee,, Soon-Ju Kwon,, Ji-Hong Kim,, Ki-Hoon Park,, Hak-Joo Lee,

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Рік:

2010

Мова:

english

DOI:

10.1109/INEC.2010.5424542

Файл:

PDF, 192 KB

english, 2010

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась