Electrical Resistivity of Thin Film Samples of Al–Cu–Fe Icosahedral Quasicrystal
A. Yoshioka, K. Edagawa, S. Takeuchi, K. KimuraТом:
201
Рік:
1997
Мова:
english
Сторінки:
8
DOI:
10.1002/1521-3951(199705)201:13.0.co;2-o
Файл:
PDF, 303 KB
english, 1997
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
