Depth Profiling Study of the CdTe/CdS/ITO/Glass Heterostructure with AES and GIXRD
A. Martel, F. Caballero-Briones, A.I. Oliva, R. Castro-Rodríguez, A. Iribarren, P. Bartolo-Pérez, J.L. PeñaТом:
220
Рік:
2000
Мова:
english
Сторінки:
7
DOI:
10.1002/1521-3951(200007)220:13.0.co;2-4
Файл:
PDF, 118 KB
english, 2000