[IEEE 2000 5th International Workshop on Statistical...

[IEEE 2000 5th International Workshop on Statistical Metrology - Honolulu, HI, USA (11 June 2000)] 2000 5th International Workshop on Statistical Metrology (Cat.No.00TH8489 - An efficient statistical model using electrical tests for GHz CMOS devices

Sang-Hoon Lee,, Dong-Yun Lee,, Tae-Jin Kwon,, Joo-Hee Lee,, Young-Kwan Park,, Bum-Sik Kim,, Jeong-Taek Kong,

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Рік:

2000

Мова:

english

DOI:

10.1109/IWSTM.2000.869315

Файл:

PDF, 335 KB

english, 2000

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась