Drain current dlts analysis of recoverable and permanent degradation effects in AlGaAs/GaAs AND AlGaAs/InGaAs HEMT'S
G. Meneghesso, Y. Haddab, N. Perrino, C. Canali, E. ZanoniТом:
36
Рік:
1996
Мова:
english
Сторінки:
4
DOI:
10.1016/0026-2714(96)00223-5
Файл:
PDF, 290 KB
english, 1996