Proton nmr studies of annealed plasma-deposited amorphous Si:H films
Jeffrey A. Reimer, Robert W. Vaughan, John C. KnightsТом:
37
Рік:
1981
Мова:
english
Сторінки:
4
DOI:
10.1016/0038-1098(81)90734-1
Файл:
PDF, 338 KB
english, 1981
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
