Dependence of the resistivity and hall coefficient in thin metallic films on the thickness and the transverse magnetic field
C.R. Pichard, A.J. Tosser, C.R. TellierТом:
81
Рік:
1981
Мова:
english
Сторінки:
12
DOI:
10.1016/0040-6090(81)90304-7
Файл:
PDF, 486 KB
english, 1981