TEM dislocations characterization of InxGa1−xAs/InP (100) (x=0.82) on mismatched InP substrate
Zhao, L., Sun, J.G., Guo, Z.X., Miao, G.Q.Том:
106
Мова:
english
Журнал:
Materials Letters
DOI:
10.1016/j.matlet.2013.04.116
Date:
September, 2013
Файл:
PDF, 1.08 MB
english, 2013
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
