[IEEE 2012 28th International Conference on...

[IEEE 2012 28th International Conference on Microelectronics (MIEL 2012) - Nis, Serbia (2012.05.13-2012.05.16)] 2012 28th International Conference on Microelectronics Proceedings - Analytical unified drain current model of long-channel tri-gate FinFETs

Tsormpatzoglou, A., Fasarakis, N., Tassis, D. H., Pappas, I., Papathanasiou, K., Dimitriadis, C. A.

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Рік:

2012

Мова:

english

DOI:

10.1109/MIEL.2012.6222810

Файл:

PDF, 230 KB

english, 2012

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась