Effects of exchange-correlation and surface strain on the subband separations in Si(111) surface inversion layers
K.S. Yi, J.J. QuinnТом:
113
Рік:
1982
Мова:
english
Сторінки:
1
DOI:
10.1016/0167-2584(82)90439-x
Файл:
PDF, 47 KB
english, 1982