Energy loss of warm electrons at the interface of (100) silicon MOSFETs
W. Hönlein, G. LandwehrТом:
113
Рік:
1982
Мова:
english
Сторінки:
1
DOI:
10.1016/0167-2584(82)90473-x
Файл:
PDF, 84 KB
english, 1982