Interfacial Trap Density-of-States in Pentacene- and ZnO-Based Thin-Film Transistors Measured via Novel Photo-excited Charge-Collection Spectroscopy
Kimoon Lee, Min Suk Oh, Sung-jin Mun, Kwang H. Lee, Tae Woo Ha, Jae Hoon Kim, Sang-Hee Ko Park, Chi-Sun Hwang, Byoung H. Lee, Myung M. Sung, Seongil ImТом:
22
Рік:
2010
Мова:
english
Сторінки:
6
DOI:
10.1002/adma.201000722
Файл:
PDF, 682 KB
english, 2010
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
