Characterisation of TEGs Under Extreme Environments and Integration Efforts Onto Satellites
von Lukowicz, M., Schmiel, T., Rosenfeld, M., Heisig, J., Tajmar, M.Том:
44
Мова:
english
Журнал:
Journal of Electronic Materials
DOI:
10.1007/s11664-014-3206-2
Date:
January, 2015
Файл:
PDF, 430 KB
english, 2015
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
