Studies of surface resistance of copper(II) phthalocyanine thin films by using a near-field scanning microwave microscope
Miehwa Park, Hyunjun Yoo, Sunil Yun, Eunju Lim, Kiejin Lee, Chang Hwan Chang, Man Kil Joo, Ik Jae Lee, Jae-yong Kim, Barry FriedmanТом:
233
Рік:
2004
Мова:
english
Сторінки:
6
DOI:
10.1016/j.apsusc.2004.03.215
Файл:
PDF, 279 KB
english, 2004