Ultrathin InAs and modulated InGaAs layers in GaAs grown by MOVPE studied by photomodulated reflectance spectroscopy
P. Hazdra, J. Voves, E. Hulicius, J. Pangrác, Z. ŠourekТом:
253
Рік:
2006
Мова:
english
Сторінки:
5
DOI:
10.1016/j.apsusc.2006.05.074
Файл:
PDF, 749 KB
english, 2006