[IEEE IEEE International Digest on Microwave Symposium - Dallas, TX, USA (8-10 May 1990)] IEEE International Digest on Microwave Symposium - Extraction of microwave noise parameters of FET devices
Colombani, F., Camargo, E.Рік:
1990
DOI:
10.1109/mwsym.1990.99614
Файл:
PDF, 238 KB
1990