[IEEE 2008 IEEE International Test Conference - Santa...

[IEEE 2008 IEEE International Test Conference - Santa Clara, CA (2008.10.28-2008.10.30)] 2008 IEEE International Test Conference - External Loopback Testing Experiences with High Speed Serial Interfaces

Meixner, A., Kakizawa, A., Provost, B., Bedwani, S.

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Рік:

2008

Мова:

english

DOI:

10.1109/test.2008.4700557

Файл:

PDF, 184 KB

english, 2008

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась