[IEEE 2009 IEEE International Memory Workshop (IMW) - Monterey, CA, USA (2009.05.10-2009.05.14)] 2009 IEEE International Memory Workshop - Endurance Improvement of Ge2Sb2Te5-Based Phase Change Memory
Chen, Chieh-Fang, Schrott, A., Lee, M. H., Raoux, S., Shih, Y. H., Breitwisch, M., Baumann, F. H., Lai, E. K., Shaw, T. M., Flaitz, P., Cheek, R., Joseph, E. A., Chen, S. H., Rajendran, B., Lung, H. LРік:
2009
Мова:
english
DOI:
10.1109/imw.2009.5090589
Файл:
PDF, 543 KB
english, 2009