[IEEE IEEE International Electron Devices Meeting - San Francisco, CA, USA (8-11 Dec. 2002)] Digest. International Electron Devices Meeting, - Examination of hole mobility in ultra-thin body SOI MOSFETs
Zhibin Ren,, Solomon, P.M., Kanarsky, T., Doris, B., Dokumaci, O., Oldiges, P., Roy, R.A., Jones, E.C., Meikei Ieong,, Miller, R.J., Haensch, W., Wong, H.-S.P.Рік:
2002
Мова:
english
DOI:
10.1109/iedm.2002.1175777
Файл:
PDF, 308 KB
english, 2002
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
