Indirect fitting procedure to separate the effects of mobility degradation and source-and-drain resistance in MOSFET parameter extraction
Adelmo Ortiz-Conde, Francisco J. García-Sánchez, Juan Muci, Denise C. Lugo Muñoz, Álvaro D. Latorre Rey, Ching-Sung Ho, Juin J. LiouТом:
49
Рік:
2009
Мова:
english
Сторінки:
4
DOI:
10.1016/j.microrel.2009.05.005
Файл:
PDF, 367 KB
english, 2009