Density and phase dependence of edge erase band in MR/thin...

Density and phase dependence of edge erase band in MR/thin film head recording

Yansheng Luo,, Lam, T.T., Jian-Gang Zhu,

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Том:

Мова:

english

Журнал:

IEEE Transactions on Magnetics

DOI:

10.1109/20.490284

Date:

January, 1995

Файл:

PDF, 445 KB

english, 1995

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась